LKPTH-225E

可检测和确定元件、设备或其它产品在高低度与温度循环变化组合条件下使用、运输和储存的适应性，以及用于评价在高温或低温环境中使用的装备。广泛用于电子类产品、模组、传感器、芯片等寿命测试及安全性测试。如：压力传感器、温湿度传感器、陀螺仪、加速度传感器、射频传感器、红外传感器、激光类传感器、磁传感器等。

内部容积：225L（600mm*500mm*750mm）
测试方法：GB/T5170.2-2008，温度试验设备。
温度均匀度：≤ ±2℃
温度波动度：≤ ±4℃
温度偏差：≤ ±2℃
升温速度：≥ 3℃ /min，常温~150℃ 约40分钟（非线性空载，约3.5℃ /分钟）
降温速度：≥ 1℃ /min， 常温~ -40 ℃ 约50分钟（非线性空载约1.2℃/分钟）